产品概述

随着PCIe 5.0等高速接口技术的普及，SSD的性能持续攀升，对存储产品在极端温度环境下的数据读写稳定性提出了更高要求。BIT（Burn-In Test）老化测试通过在温度变化的同时开展持续读写校验，模拟产品在不同温度环境下的实际工作表现，排查温度波动引发的比特翻转、数据错误等问题。

广东众志检测仪器PCIe通道BIT高低温老化柜，将高低温环境模拟与BIT压力测试合二为一，在温度循环的同时对SSD施加持续读写负载，覆盖从消费级到工业级SSD的量产BIT测试需求。

内箱规格灵活定制 —— 设备内箱容积覆盖200升至2000升区间，可根据PCIe老化板尺寸、测试通道数量及产线节拍要求进行腔体定制，确保内箱空间与测试产能的最优匹配。

核心技术指标

主要特点

全品牌Flash芯片兼容 —— 适配Micron、Intel、YMTC、Hynix、Toshiba、SanDisk等主流厂商的SLC、MLC、TLC、QLC类型NAND Flash芯片颗粒，覆盖范围持续扩展中。

多维度性能验证 —— 支持功耗测试、电压拉偏测试、异常掉电验证，从电气特性维度全面评估SSD在极限工况下的可靠性。

寿命预测与性能筛选 —— 内置寿命预测与性能筛选功能，帮助厂商在量产阶段精准分级，将不同品质等级的产品匹配对应的市场定位。

全命令类型支持 —— 支持各种测试命令类型，适配不同SSD主控方案与测试策略，满足研发验证与量产抽检的多样化需求。

特殊封装适配 —— 支持特殊封装类型规格，兼容U.2、M.2、SATA等多种SSD形态。

Pattern测试能力 —— 支持Pattern测试，通过特定数据模式的持续读写校验，精准定位存储单元的数据保持能力与错误率。

智能工厂系统集成 —— 支持MES系统对接及APP功能定制，实现测试数据自动上传、批次追溯与远程监控管理。

内箱定制与适用测试场景

200～2000升的可定制内箱规格，使该设备能够灵活适配多种BIT测试场景：

研发与工程验证（200～500升） —— 适配SSD研发阶段的设计验证、新品导入及失效分析，内箱空间紧凑有利于快速温变响应，配合20℃/min的降温速率，高效完成极限工况下的性能摸底测试。

量产抽检与可靠性监控（500～1000升） —— 适配量产线的周期性抽检BIT测试，对批量产品施加高低温循环与持续读写负载，监控产线质量波动，确保出厂产品的一致性。

大规模BIT老化筛选（1000～2000升） —— 适配存储封测厂及品牌厂商的大规模BIT测试产线，单批次可容纳高达1000片SSD同时进行高低温循环老化，配合MES系统实现全流程数据追溯与品质管控。

适用场景

PCIe/NVMe SSD高低温BIT老化测试

消费级/工业级/车规级存储产品宽温可靠性验证

NAND Flash芯片颗粒性能认证与筛选

存储产品研发阶段极限工况验证