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HAST高加速寿命试验设备介绍
编辑 :小编
时间:2023-04-17

  HAST高加速寿命试验设备又名HAST高压加速试验机,广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命测试。加速寿命试险的目的是提高环境应力,如温度与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。需要加电的简称为HAST或BHAST,不加电的简称为UHAST或UHST。

 

  对应的HAST和UHAST参考标准分别为:

  JESD22-A110(Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test(HAST))

  JESD22-A118 (Accelerated Moisture Resistance -Unbiased HAST)

  HAST试验目的是评估塑料密封组件之密封性。试验时待测芯片会被置于高温、高湿以及高压力下,湿气会沿着塑封料和金属框架之间渗入,从而加速产品老化,缩短测试周期。

 

  HAST高加速寿命试验设备核心技术参数:

型号 HAST-25 HAST-35 HAST-45
内箱尺寸WxHxD(mm) 300x250 350x450 450x550
外箱尺寸WxHxD(mm) 850x1300x900 900x1350x900 1000x1480x1000
蒸汽温度范围 蒸汽温度范围:100℃~135℃(143℃为特殊选用型)                                                 
相对压力/绝对压力 相对压力:即压力仪表显示值                                                                                                 绝对压力:压力仪表显示值加1个环境大气压(即试验箱内实际值)                                                                                                                                                                                                                                                                   
蒸汽湿度 70~100%R.H.蒸汽湿度可调
使用蒸汽压力      (绝对压力) 0.0Kg/cm²~2.0Kg/cm²(+101.3Kpa);(3Kg/cm²属于特殊规格)
循环方式 水蒸气自然对流循环
配件 不锈钢隔板两层
安全保护装置 缺水保护、超压保护(具有自动/手动补水功能,自动泄压功能)
设备容积 14 43 87
电源 AC220V;1Φ3线;50/60Hz

 

  温度压力对应示意图:

  

 

  常用试验条件有2种:

  1. 130℃,85% RH,230kPa(相当于2.3个大气压),96小时。

  2. 110℃,85% RH,122kPa(相当于1.2个大气压),264小时。

  HAST偏压设计既要保持芯片待机但又不能因为芯片自身发热,湿气无法进入,从而达不到湿气侵入芯片效果。遵循的规则如下:

  1. 最小功耗;

  2. 尽可能多的交替加压;

  3. 尽可能多的不同金属层之间交替加压;

  4. 应用范围内最大电压。